64 Gbps 듀얼 DP3T RF MEMS 릴레이
MM5620
MM5620은 PCIe Gen 5, Gen 6 및 SerDes와 같은 고급 기술 표준에 대한 빠르고 고품질의 신호 전환을 지원하는 특수 릴레이입니다. Menlo Micro의 Ideal Switch® 기술을 통해 최대 64 Gbps 또는 20 GHz의 고속 동작이 가능하며, 낮은 삽입 손실과 빠른 전환 속도를 유지하여 신뢰성 있는 성능을 제공합니다.
또한, MM5620은 30억 회 이상의 스위칭 사이클을 처리할 수 있으며, 스위치 드라이버와 차지 펌프가 호스트 프로세서에 의해 SPI 또는 GPIO 인터페이스를 통해 제어되는 컴팩트한 시스템 인 패키지 (SiP) 솔루션으로 제공됩니다. 이 통합에는 루프백 커패시터도 포함되어 있어 대량 생산 테스트 솔루션의 전체 보드 풋프린트를 줄이는 데 도움이 됩니다.
결과적으로, MM5620 스위치는 고 데이터 전송률과 고속 차분 데이터 응용을 제공하여 스마트폰, 그래픽 및 네트워크 프로세서, 마이크로프로세서, 가속기 및 고속 메모리 제품을 포함한 다양한 제품의 공간 제한된 최종 테스트 및 프로브 테스트에 이상적인 솔루션입니다.
Bright Toward는 Menlo Micro의 기술 지원 및 아시아 지역 대리점으로 활동합니다. 자세한 정보를 위해 저희에게 문의하십시오.
기능
- Menlo Micro에서 제공하는 이상적인 스위치® 기술
- DC에서 20 GHz 범위, 최대 64 Gbps
- 차분, 듀얼 DP3T
- PCIe Gen 5 및 6, SerDes에 최적화됨
- 삽입 손실 1.5dB @ 16GHz De-embed (차분)
- 높은 신뢰성 >3B 스위칭 사이클
- 내장 AC 커플링 커패시터
- SPI 및 GPIO 인터페이스
- 8.2 mm x 8.2 mm LGA
연락처 양식
- Differential, Dual DP3T (*For more details, please see the below diagram.)
MM5620: 기능 블록 다이어그램
MM5620 고속 (HS) 루프백 경로는 64 Gbps PAM-4를 지원합니다.
주파수
- DC to 20 GHz range
- 64 Gbps
온 저항 (Ω)
- 1.7
삽입 손실
- 1.5dB @16GHz (Differential)
반사 손실
- 28dB @16GHz (High Speed)
절연
- 67dB @16GHz (High Speed)
ESD 보호
- 150V
MM5620 - MEMS 스위치 제어 블록 다이어그램
*통신 인터페이스: GPIO 및 SPI
*VDD_IO: 디지털 I/O 공급 (+1.8V to +5.0V)
*VDD: 아날로그 회로에 대한 +3.3V 공급
*VIN: 내부 충전 펌프에 대한 +5V 공급
MM5620 - 이중 밀도 HSIO 루프백 모드 테스트
*MM5620 장치 하나로 고속으로 두 개의 PCIe 4/5/6 레인 테스트
- 속도 테스트에서 TX0_X ↔ RX0_X (HS1 ↔ HS2)
- TX1_X ↔ RX1_X (MS1 ↔ MS2) 속도 테스트에서
*LS 신호는 저주파 및 DC 스윕 테스트에 공유될 수 있습니다.
*두 개의 송신기는 항상 켜져 있어 테스트 시간을 단축시킬 수 있습니다.
*완전한 양방향 신호 경로
MM5620 신호 경로의 RF 성능
삽입 손실(SDD21)
MM5620 신호 경로의 RF 성능
손실 반환(SDD11)
MM5620: 신호 경로 및 측정 케이스
고속 1(HS1 ↔ HS2)、고속 2(MS1 ↔ MS2)、저속 (LS1 ↔ LS2)
MM5620 S-파라미터 성능 (HS1에서 HS2 신호 경로)
아이 다이어그램 테스트 조건: PCIe Gen6 / PAM4, 32 Gbaud(64Gbps), PRBS 2^15-1 / ±400mV
MM5620 S-파라미터 성능 (MS1에서 MS2 신호 경로)
아이 다이어그램 테스트 조건: PCIe Gen6 / PAM4, 32 Gbaud(64Gbps), PRBS 2^15-1 / ±400mV
MM5620: 신호 경로 및 측정 케이스
HS1 ↔ MS1、HS2 ↔ MS2、HS1 ↔ LS1、HS2 ↔ LS2、MS1 ↔ LS1、MS2 ↔ LS2
MM5620 - 자동 SoC 테스트를 위한 응용 이점
애플리케이션
- 고속 데이터 디지털 컴포넌트 테스트
- 광전기 모듈 테스트
- 고속 신호 라우팅
- ATE 장치 인터페이스 보드
- 광전기 모듈 테스트
- 차동 스위치 매트릭스
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