IC 테스트에서의 리드 릴레이의 역할
리드 릴레이는 고신뢰성과 정밀성으로 인해 반도체 테스트에서 중요한 역할을 합니다. 이들은 유리 관에 밀봉된 두 개의 금속 리드로 구성되어 있으며, 내부 코일을 구동하는 전압에 의해 제어되어 자기력을 생성하는 스위치 접점으로 작동합니다.
IC 테스트에서 리드 릴레이는 어떻게 사용되나요
IC 테스트에서는 리드 릴레이가 IC의 다양한 핀과 구성 요소를 연결하고 분리하여 다양한 테스트와 측정을 수행합니다. 예를 들어, 리드 릴레이는 IC의 특정 핀을 반도체 테스트 시스템, 자동 테스트 장비 (ATE), 오실로스코프 또는 멀티미터와 같은 외부 측정 장치에 연결하여 IC의 기능, RF 성능, 전압 또는 전류를 측정하는 데 사용될 수 있습니다.
리드 릴레이는 IC 테스트에서 특히 유용합니다. 매우 빠르고 접촉 저항이 낮으며 높은 정밀도로 제어할 수 있습니다. 게다가, 높은 주파수를 처리할 수 있으며 테스트 환경에서 다른 신호로부터 상대적으로 면역성을 가집니다.
IC 테스트에서 리드 릴레이를 사용하려면 일반적으로 내부 코일을 활성화하고 비활성화할 수 있는 제어 회로에 연결됩니다. 이로 인해 리드 스위치가 닫히거나 열릴 수 있습니다. 이 제어 회로는 엔지니어에 의해 수동으로 작동되거나 전문 테스트 장비를 사용하여 자동화될 수 있습니다.
전반적으로, 리드 릴레이는 신뢰성, 정밀성 및 속도로 인해 IC 테스트에서 가치 있는 도구이며, 반도체 산업에서 다양한 응용 분야에서 일반적으로 사용됩니다.
Bright Toward은 30년 이상 동안 대만의 반도체 산업에 작고 신뢰할 수 있는 릴레이를 제공해 왔습니다. 우리는 지속적으로 더 나은 신뢰성 있는 릴레이를 개발하기 위한 경험과 노하우를 갖추고 있으며, 고객들이 점점 복잡한 기능을 가진 IC를 성공적으로 테스트할 수 있도록 보장합니다.
IC 테스트에서 다중 채널 소형 리드 릴레이가 왜 유용한가요?
멀티 채널 소형 리드 릴레이는 특히 IC 테스트에 유용하며, 동시에 다중 연결을 가능하게 하고 높은 정밀도로 수행할 수 있습니다. IC 테스트를 위해 리드 릴레이는 표면적이 작은 세로로 패키징되며, 단일 패키지 내에서 최대 5개의 채널을 지원하도록 설계되었습니다.
다중 채널 소형 리드 릴레이가 IC 테스트에서 유용한 몇 가지 이유가 있습니다.
테스트 시간 단축
- 다중 채널을 사용하면 여러 테스트를 동시에 수행하여 전체 테스트 시간을 단축할 수 있습니다. 이는 시간이 중요한 대량 생산 환경에서 특히 중요합니다.
공간 절약형
- 미니어처 리드 릴레이는 매우 작은 공간을 차지하여 작은 영역에 더 많은 채널을 포장할 수 있습니다. 이는 특히 현대의 IC에서 매우 작은 영역에 수백 개 또는 수천 개의 핀이 있을 수 있는 경우에 특히 중요합니다.
정밀한 제어
- 미니어처 리드 릴레이는 매우 정밀하며, IC의 특정 핀의 연결 및 분리를 고정밀 제어할 수 있습니다. 이는 정확한 측정을 위해 중요하며, 테스트 중 올바른 연결이 이루어지도록 보장하는 데 중요합니다.
신뢰성
- 리드 릴레이는 오랜 동작 수명을 가지며, 수백만 번의 사이클링을 실패 없이 수행할 수 있습니다. 이는 특히 IC 테스트에서 신뢰성이 중요한데, 이를 통해 테스트 과정이 정확하고 반복 가능한지를 보장할 수 있습니다.
보다 일반적으로, IC 테스트에서 다채널 소형 리드 릴레이의 사용은 테스트 과정의 효율성과 정확성을 크게 향상시킬 수 있으며, 제품 품질을 향상시키고 시장 진입 시간을 단축시킬 수 있습니다.
리드 릴레이의 구조 다이어그램
아래 그림에서 볼 수 있듯이, 리드 컨택트가 있는 두 개의 리드가 유리 튜브에 포장되어 있습니다. 이너트 가스가 유리 튜브에 주입되어 접촉 마모를 최소화하고 신뢰성을 높입니다. 그런 다음, 례늄, 루테늄 및 이리듐과 같은 화학 물질을 컨택트에 스퍼터링하여 신뢰성과 안정된 접촉 저항을 향상시킵니다. 리드 컨택트가 있는 유리 튜브는 코일에 삽입되고 리드 릴레이로 포장됩니다.
표준 연락처 구성에는 Form A (비활성 상태일 때 normally open), Form B (비활성 상태일 때 normally closed) 및 Form C (normally open + normally closed)가 포함됩니다. 연락처 구성 설명에 대한 관련 FAQ 링크를 참조하십시오. 로드 보드 및 프로브 카드의 테스트 사이트 수가 증가함에 따라, 두 개의 Form A, 네 개의 Form A 및 두 개의 Form C가 종종 단일 리드 릴레이에 패키지되어 테스트 요구 사항을 충족시킵니다.
예를 들어, Bright Toward은 PCB 실제 공간을 절약하기 위해 수직으로 패키지화된 내부 리드 스위치를 갖춘 네 개의 개별 채널로 구성된 VN-4A 리드 릴레이를 제공하며, APIC (응용 프로세싱 IC) 및 PMIC (전원 관리 IC) 테스트에 널리 적용되며 크기와 신뢰성이 중요한 특성입니다.
VN-4A 시리즈의 회로도
IC 테스트에서 리드 릴레이의 온 저항 값이 왜 중요한가요?
리드 릴레이의 온 저항은 IC 테스트에서 고려해야 할 중요한 매개 변수입니다. 이는 측정되는 정확도와 정밀도에 직접적인 영향을 미칩니다. 온 저항은 스위치가 닫힌 상태일 때의 저항이며, 특정 릴레이와 그 설계에 따라 다를 수 있습니다.
Toward의 리드 릴레이는 저하고 안정적인 접촉 저항을 갖도록 개발되었습니다.
리드 릴레이의 온 저항이 IC 테스트에서 중요한 몇 가지 이유가 있습니다.
정확성
- 릴레이의 온 저항은 측정 중인 값의 정확도에 직접적인 영향을 미칠 수 있습니다. 예를 들어 전압이나 전류 신호를 측정할 때, 온 저항은 측정에 추가 저항 값을 더하여 데이터의 부정확성을 초래할 수 있습니다. 온 저항이 낮은 릴레이를 사용함으로써, 측정에 릴레이의 영향을 최소화할 수 있습니다.
정밀도
- 온 저항은 측정의 정밀도에도 영향을 미칠 수 있습니다. 작은 규모에서 측정을 할 때는 저항의 작은 변화도 측정값에 상당한 변화를 일으킬 수 있습니다. 저 온 저항을 가진 릴레이를 사용함으로써, 측정에 미치는 릴레이의 영향을 최소화하여 더 정확한 데이터를 얻을 수 있습니다.
신호 무결성
- 온 저항은 측정의 신호 무결성에도 영향을 미칠 수 있습니다. 온 저항이 높을 경우, 특히 고주파 신호를 측정할 때 신호 손실이나 왜곡을 초래할 수 있습니다. 저 온 저항을 가진 릴레이를 사용함으로써 신호에 미치는 영향을 최소화하여 더 정확하고 정밀한 측정을 할 수 있습니다.
전반적으로, 리드 릴레이의 온 저항은 IC 테스트에서 중요한 고려 사항입니다. 이는 측정되는 값의 정확도, 정밀도 및 신호 무결성에 직접적인 영향을 미칠 수 있습니다. 저 온 저항을 가진 Toward의 리드 릴레이를 선택함으로써, 측정에 릴레이가 미치는 영향을 최소화하여 더 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트 결과를 얻을 수 있습니다.
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