¿Cómo se utilizan los relés Reed en las pruebas de circuitos integrados?

En las pruebas de IC, se utilizan relés de láminas para conectar y desconectar varios pines y componentes del IC, lo que permite realizar diversas pruebas y mediciones. Por ejemplo, se puede utilizar un relé de láminas para conectar un pin específico del IC a un dispositivo de medición externo, como un sistema de prueba de semiconductores, equipo de prueba automático (ATE), osciloscopio o multímetro, para medir la función del IC, el rendimiento de RF, el voltaje o la corriente del IC.
 
Los relés Reed son especialmente útiles en las pruebas de circuitos integrados porque son muy rápidos, tienen una baja resistencia de contacto y pueden ser controlados con alta precisión. Además, pueden manejar altas frecuencias y son relativamente inmunes a las interferencias de otras señales en el entorno de prueba.
 
Para utilizar un relé de lengüeta en la prueba de circuitos integrados, generalmente se conecta a un circuito de control que puede activar y desactivar la bobina interna, haciendo que el interruptor de lengüeta se cierre o se abra. Este circuito de control puede ser operado manualmente por un ingeniero o automatizado utilizando equipos de prueba especializados.
 
En general, los relés de lámina son una herramienta valiosa en las pruebas de circuitos integrados debido a su confiabilidad, precisión y velocidad, y se utilizan comúnmente en una variedad de aplicaciones en la industria de semiconductores.
 
Bright Toward ha servido a la industria de semiconductores de Taiwán con relés pequeños y confiables durante más de tres décadas. Tenemos la experiencia y el conocimiento para desarrollar continuamente relés mejores y más confiables, asegurando que nuestros clientes puedan probar con éxito circuitos integrados con funciones cada vez más complicadas.

¿Por qué son útiles los relés de lengüeta en miniatura de múltiples canales en las pruebas de IC?

Los relés de lengüeta en miniatura de múltiples canales son particularmente útiles en las pruebas de circuitos integrados porque permiten realizar múltiples conexiones simultáneamente y con alta precisión. En las pruebas de circuitos integrados, los relés de lengüeta se empaquetan verticalmente para ocupar menos espacio en la superficie y se diseñan con múltiples canales, hasta 5 canales en un solo paquete.
 
Aquí hay algunas razones por las que los relés de lengüeta en miniatura de múltiples canales son tan útiles en las pruebas de IC:

Tiempo de prueba reducido

• Con múltiples canales, es posible realizar pruebas simultáneas, reduciendo el tiempo total de prueba. Esto es especialmente importante en entornos de producción de alto volumen donde el tiempo es un factor crítico.

Ahorro de espacio

• Los relés de lengüeta en miniatura ocupan muy poco espacio, lo que permite empaquetar más canales en un área pequeña. Esto es especialmente importante en los circuitos integrados modernos, que pueden tener cientos e incluso miles de pines en un área muy reducida.

Control preciso

• Los relés de lengüeta en miniatura son muy precisos, lo que permite un control de alta precisión de la conexión y desconexión de pines específicos en el CI. Esto es importante para realizar mediciones precisas y asegurarse de que se realicen las conexiones correctas durante las pruebas.

Fiabilidad

• Los relés de lengüeta tienen una larga vida útil y pueden ser accionados millones de veces sin fallos. Esto es particularmente importante en pruebas de IC, donde la confiabilidad es fundamental para garantizar que el proceso de prueba sea preciso y repetible.

Más en general, el uso de relés de lengüeta en miniatura de múltiples canales en pruebas de IC puede mejorar significativamente la eficiencia y precisión del proceso de prueba, lo que conduce a una mejor calidad del producto y a un tiempo de comercialización más rápido.

Diagrama de la estructura de un relé Reed

Como muestra el dibujo a continuación, dos cables con un contacto de lengüeta se empaquetan en un tubo de vidrio. Se inyecta gas inerte en el tubo de vidrio para minimizar el desgaste del contacto y aumentar la confiabilidad. Luego, se depositan químicos como rodio, rutenio e iridio en el contacto para una mejor confiabilidad y una resistencia de contacto estable. El tubo de vidrio con los contactos de lengüeta se inserta luego en una bobina y se empaqueta en un relé de lengüeta.

Las configuraciones de contacto estándar incluyen Forma A (normalmente abierto cuando no está activado), Forma B (normalmente cerrado cuando no está activado) y Forma C (normalmente abierto + normalmente cerrado). Consulte el enlace en Preguntas frecuentes relacionadas para obtener explicaciones sobre la configuración de contactos. Con el aumento del número de sitios de prueba en placas de carga y tarjetas de prueba, a menudo se empaquetan dos formas A, cuatro formas A y dos formas C en un solo relé de lengüeta para satisfacer las necesidades de prueba.

Por ejemplo, Bright Toward proporciona un relé de lengüeta VN-4A que consta de cuatro canales individuales con interruptores de lengüeta internos empaquetados verticalmente para conservar espacio en la PCB, ampliamente aplicado en pruebas de APIC (Circuito Integrado de Procesamiento de Aplicaciones) y PMIC (Circuito Integrado de Gestión de Energía), donde el tamaño y la confiabilidad son características críticas.

Diagrama de circuito de la serie VN-4A

¿Por qué es importante el valor de resistencia de encendido de los relés Reed en las pruebas de IC?

La resistencia de encendido de un relé de láminas es un parámetro importante a considerar en las pruebas de IC porque afecta directamente la precisión y la exactitud de las mediciones que se están tomando. La resistencia de encendido es la resistencia del interruptor cuando está en posición cerrada, y puede variar dependiendo del relé específico y su diseño.
 
Los relés Reed de Toward están desarrollados para tener una resistencia de contacto baja y estable.
 
Aquí hay algunas razones por las cuales la resistencia de encendido de un relé Reed es importante en las pruebas de IC:

Precisión

• La resistencia de encendido del relé puede afectar directamente la precisión de la medición que se está realizando. Al medir una señal de voltaje o corriente, por ejemplo, la resistencia de encendido puede agregar un valor de resistencia adicional a la medición, lo que lleva a inexactitudes en los datos. Al utilizar un relé con una resistencia de encendido baja, se puede minimizar el impacto del relé en la medición.

Precisión

• La resistencia de encendido también puede afectar la precisión de la medición. Al realizar mediciones a pequeña escala, incluso pequeños cambios en la resistencia pueden provocar cambios significativos en los valores de medición. Al utilizar un relé con una baja resistencia de encendido, se puede minimizar el impacto del relé en la medición, lo que conduce a datos más precisos.

Integridad de la Señal

• La resistencia de encendido también puede afectar la integridad de la señal de la medición. Cuando la resistencia de encendido es alta, puede causar pérdida o distorsión de la señal, especialmente cuando se están midiendo señales de alta frecuencia. Al utilizar un relé con una resistencia de encendido baja, se puede minimizar el impacto en la señal, lo que conduce a mediciones más precisas y exactas.

En general, la resistencia en estado activado de un relé de láminas es una consideración importante en las pruebas de circuitos integrados, ya que puede afectar directamente la precisión, la exactitud y la integridad de la señal de las mediciones que se están realizando. Al seleccionar el relé de láminas de Toward que tiene una baja resistencia en estado activado, se puede minimizar el impacto del relé en la medición, lo que conduce a resultados de prueba más precisos y confiables.

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