ICテストにおけるリードリレーの役割
リードリレーは、高い信頼性と精度を持つため、半導体テストにおいて重要な役割を果たしています。リードリレーは、ガラス管に封入された2つの金属リードからなり、内部コイルを駆動する電圧によって制御され、磁力を生成します。これらのリードがスイッチの接点として機能します。
ICテストでリードリレーはどのように使用されていますか
ICテストでは、リードリレーが使用され、ICのさまざまなピンやコンポーネントを接続および切断することができます。これにより、さまざまなテストや測定が行われます。たとえば、リードリレーは、ICの特定のピンを外部の測定装置（半導体テストシステム、自動テスト装置（ATE）、オシロスコープ、マルチメータなど）に接続するために使用され、ICの機能、RF性能、電圧、電流を測定することができます。
リードリレーは、非常に高速であり、接触抵抗が低く、高い精度で制御することができるため、ICテストに特に役立ちます。さらに、高い周波数を扱うことができ、テスト環境の他の信号からの干渉に比較的耐性があります。
ICテストでリードリレーを使用する場合、通常は内部コイルをオン・オフできる制御回路に接続されます。これにより、リードスイッチを閉じたり開いたりすることができます。この制御回路は、エンジニアによって手動で操作される場合もありますし、専用のテスト機器を使用して自動化される場合もあります。
リードリレーは、信頼性、精度、速度により、ICテストにおいて貴重なツールです。また、半導体産業においてさまざまなアプリケーションで一般的に使用されています。
Bright Towardは、30年以上にわたり台湾の半導体産業に信頼性の高い小型リレーを提供してきました。私たちは経験とノウハウを持ち、より優れた信頼性の高いリレーを継続的に開発し、お客様がますます複雑な機能を持つICを成功裏にテストできるようにしています。
なぜマルチチャネルミニチュアリードリレーはICテストで役立つのでしょうか？
マルチチャンネルの小型リードリレーは、特にICテストにおいて、複数の接続を同時にかつ高精度で行うことができるため、非常に便利です。ICテスト向けのリードリレーは、表面積を小さくするために垂直にパッケージ化され、1つのパッケージに最大5つのチャンネルが設計されています。
マルチチャネルミニチュアリードリレーがICテストで非常に役立ついくつかの理由があります。
テスト時間の短縮
- 複数のチャネルを持つことで、複数のテストを同時に実行することが可能となり、全体的なテスト時間を短縮することができます。これは特に時間が重要な要素となる大量生産環境において重要です。
省スペース
- ミニチュアリードリレーは非常にスペースを取らず、小さな領域により多くのチャネルを詰め込むことができます。これは特に現代のICにおいて重要であり、非常に小さな領域に数百、さらには数千のピンが存在することがあります。
正確な制御
- ミニチュアリードリレーは非常に精密であり、ICの特定のピンの接続と切断を高精度に制御することができます。これは正確な測定を行うためや、テスト中に正しい接続が行われることを保証するために重要です。
信頼性
- リードリレーは長寿命であり、何百万回ものサイクルを失敗することなく行うことができます。これは特にICテストにおいて重要であり、信頼性が確保され、テストプロセスが正確かつ繰り返し可能であることが求められます。
より一般的には、ICテストにおけるマルチチャンネルの小型リードリレーの使用は、テストプロセスの効率と精度を大幅に向上させ、製品の品質を向上させ、市場投入までの時間を短縮することができます。
リードリレーの構造のダイアグラム
以下の図に示すように、リードコンタクトを持つ2本のリードがガラス管にパッケージされています。ガラス管には不活性ガスが注入され、接触の摩耗を最小限に抑え信頼性を高めています。その後、ロジウム、ルテニウム、イリジウムなどの化学物質を接触部にスパッタリングし、信頼性と安定した接触抵抗を向上させます。リードコンタクトを持つガラス管はコイルに挿入され、リードリレーにパッケージされます。
標準の接点構成には、非駆動時に通常開放するフォームA、非駆動時に通常閉じるフォームB、および通常開放+通常閉じるフォームCが含まれます。接点構成の説明については、関連するFAQのリンクをご覧ください。ロードボードやプローブカード上のテストサイトの数が増えるにつれて、2つのフォームA、4つのフォームA、および2つのフォームCがしばしば1つのリードリレーにパッケージ化され、テストのニーズを満たすために使用されます。
例えば、Bright Towardは、内部のリードスイッチが垂直にパッケージ化された4つの個別のチャネルを備えたVN-4Aリードリレーを提供し、PCBのスペースを節約するために広くAPIC（アプリケーションプロセッシングIC）やPMIC（電源管理IC）のテストに応用されています。サイズと信頼性が重要な特性です。
VN-4Aシリーズの回路図
なぜリードリレーのオン抵抗値がICテストにおいて重要なのでしょうか？
リードリレーのオン抵抗は、ICテストにおいて考慮すべき重要なパラメータです。これは、測定値の正確性と精度に直接影響を与えます。オン抵抗とは、スイッチが閉じた状態のときの抵抗であり、具体的なリレーとその設計によって異なる場合があります。
タワーズのリードリレーは、低く安定した接触抵抗を持つように開発されています。
リードリレーのオン抵抗がICテストにおいて重要な理由はいくつかあります。
正確性
- リレーのオン抵抗は、測定結果の正確性に直接影響を与えることがあります。例えば、電圧や電流信号を測定する際には、オン抵抗が測定に追加の抵抗値を加え、データの不正確さを引き起こす可能性があります。低いオン抵抗を持つリレーを使用することで、リレーが測定に与える影響を最小限に抑えることができます。
精度
- オン抵抗は測定の精度にも影響を与えることがあります。小規模な測定を行う際には、抵抗のわずかな変化でも測定値に大きな変動が生じることがあります。低オン抵抗のリレーを使用することで、リレーが測定に与える影響を最小限に抑え、より精密なデータを得ることができます。
信号の完全性
- オン抵抗は、測定の信号整合性にも影響を与えることがあります。オン抵抗が高い場合、特に高周波信号を測定する場合には、信号の損失や歪みを引き起こすことがあります。低いオン抵抗を持つリレーを使用することで、信号への影響を最小限に抑え、より正確かつ精密な測定が可能となります。
リードリレーのオン抵抗は、ICテストにおいて重要な考慮事項です。なぜなら、それは測定値の正確性、精度、および信号の整合性に直接的な影響を与えるからです。低オン抵抗のトワードリードリレーを選択することで、リレーが測定に与える影響を最小限に抑えることができ、より正確かつ信頼性の高いテスト結果が得られます。
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