ICテストにおけるリードリレーの役割
リードリレーは、高い信頼性と精度を持つため、半導体テストにおいて重要な役割を果たしています。リードリレーは、ガラス管に封入された2つの金属リードからなり、内部コイルを駆動する電圧によって制御され、磁力を生成します。これらのリードがスイッチの接点として機能します。
ICテストでリードリレーはどのように使用されていますか
ICテストでは、リードリレーが使用され、ICのさまざまなピンやコンポーネントを接続および切断することができます。これにより、さまざまなテストや測定が行われます。たとえば、リードリレーは、ICの特定のピンを外部の測定装置（半導体テストシステム、自動テスト装置（ATE）、オシロスコープ、マルチメータなど）に接続するために使用され、ICの機能、RF性能、電圧、電流を測定することができます。
リードリレーは、非常に高速であり、接触抵抗が低く、高い精度で制御することができるため、ICテストに特に役立ちます。さらに、高い周波数を扱うことができ、テスト環境の他の信号からの干渉に比較的耐性があります。
ICテストでリードリレーを使用する場合、通常は内部コイルをオン・オフできる制御回路に接続されます。これにより、リードスイッチを閉じたり開いたりすることができます。この制御回路は、エンジニアによって手動で操作される場合もありますし、専用のテスト機器を使用して自動化される場合もあります。
リードリレーは、信頼性、精度、速度により、ICテストにおいて貴重なツールです。また、半導体産業においてさまざまなアプリケーションで一般的に使用されています。
Bright Towardは、30年以上にわたり台湾の半導体産業に信頼性の高い小型リレーを提供してきました。私たちは経験とノウハウを持ち、より優れた信頼性の高いリレーを継続的に開発し、お客様がますます複雑な機能を持つICを成功裏にテストできるようにしています。
なぜマルチチャネルミニチュアリードリレーはICテストに役立つのか?
マルチチャネルミニチュアリードリレーは、同時に高精度で複数の接続を行うことができるため、ICテストに特に便利です。TowardのICテスト用リードリレーは、より小さな表面サイズのために垂直にパッケージされており、1つのパッケージで最大5チャネルのマルチチャネル設計になっています。
ICテストにおいてマルチチャネルミニチュアリードリレーが非常に便利な理由はいくつかあります:
テスト時間の短縮
- 複数のチャネルを使用することで、複数のテストを同時に実行でき、全体のテスト時間を短縮できます。これは、時間が重要な要素である大量生産環境では特に重要です。
省スペース
- ミニチュアリードリレーは非常に小さなスペースを占有するため、狭いエリアにより多くのチャネルを詰め込むことができます。これは、非常に小さなエリアに数百または数千のピンを持つことができる現代のICにおいて特に重要です。
正確な制御
- ミニチュアリードリレーは非常に精密で、ICの特定のピンの接続と切断を高精度で制御できます。これは、正確な測定を行うためや、テスト中に正しい接続が行われることを保証するために重要です。
信頼性
- リードリレーは長寿命で、何百万回もの動作が可能です。これは、信頼性が重要なICテストにおいて特に重要です。
より一般的に言えば、ICテストでマルチチャンネルのミニチュアリードリレーを使用することで、テストプロセスの効率と精度を大幅に向上させ、製品品質の向上とタイムツーマーケットの短縮につながります。
リードリレーの構造の図
以下の図に示すように、リード接点を持つ2つのリードがガラス管にパッケージされています。接触摩耗を最小限に抑え、信頼性を高めるために、ガラス管に不活性ガスが注入されます。その後、接点の信頼性と安定した接触抵抗を向上させるために、ロジウム、ルテニウム、イリジウムなどの化学物質をスパッタリングします。リード接点を持つガラス管はコイルに挿入され、リードリレーにパッケージされます。
標準的な接点構成には、フォームA（駆動されていないときは通常オープン）、フォームB（駆動されていないときは通常クローズ）、およびフォームC（通常オープン + 通常クローズ）が含まれます。接点構成の説明については、関連FAQのリンクをご覧ください。負荷ボードやプローブカードのテストサイトが増える中、通常、2つのフォームA、4つのフォームA、2つのフォームCが1つのリードリレーにパッケージ化され、テストニーズを満たしています。
例えば、Bright Towardは、内部のリードスイッチが垂直にパッケージ化された4つの個別のチャネルを備えたVN-4Aリードリレーを提供し、PCBのスペースを節約するために広くAPIC（アプリケーションプロセッシングIC）やPMIC（電源管理IC）のテストに応用されています。サイズと信頼性が重要な特性です。
VN-4Aシリーズの回路図
リードリレーのオン抵抗値がICテストで重要な理由は何ですか？
リードリレーのオン抵抗は、ICテストにおいて重要なパラメータであり、測定の精度と正確性に直接影響を与えるため、考慮する必要があります。オン抵抗は、スイッチが閉じた状態のときの抵抗であり、特定のリレーやその設計によって異なる場合があります。
Towardのリードリレーは、低く安定した接触抵抗を持つように開発されています。
リードリレーのオン抵抗がICテストで重要な理由はいくつかあります。
正確性
- リレーのオン抵抗は、測定の精度に直接影響を与える可能性があります。例えば、電圧や電流信号を測定する際、オン抵抗は測定に追加の抵抗値を加えることになり、データに不正確さをもたらすことがあります。低オン抵抗のリレーを使用することで、測定に対するリレーの影響を最小限に抑えることができます。
精度
- オン抵抗は測定の精度にも影響を与える可能性があります。小さなスケールで測定を行う際には、抵抗のわずかな変化でも測定値に大きな変化をもたらすことがあります。低オン抵抗のリレーを使用することで、リレーが測定に与える影響を最小限に抑え、より正確なデータを得ることができます。
信号の完全性
- オン抵抗は、測定の信号の整合性にも影響を与える可能性があります。オン抵抗が高いと、特に高周波信号を測定しているときに、信号の損失や歪みを引き起こす可能性があります。低オン抵抗のリレーを使用することで、信号への影響を最小限に抑え、より正確で精密な測定が可能になります。
全体として、リードリレーのオン抵抗はICテストにおいて重要な考慮事項です。なぜなら、それが測定の精度、正確性、信号の完全性に直接影響を与える可能性があるからです。オン抵抗が低いTowardのリードリレーを選択することで、リレーが測定に与える影響を最小限に抑え、より正確で信頼性の高いテスト結果を得ることができます。
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